본 기기는 X-선관 내에서 전자선의 충돌로 인하여 방출되는 X-선을 시료에 조사할 때 생기는 회절패턴을 이용하여 원소의 화학적 결합상태 등 물질구조 및 성분분석 에 기본적으로 사용되는 장비이다 1. 다종 Powder sample 정성분석 2. 박막 측정 (attachment 장착시) 3. 잔류 응력 측정 (attachment 장착시)